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X射线衍射仪主要的4部分部件介绍

点击次数:4524 发布时间:2018-04-16
 
  
  X射线衍射法是一种利用单色X射线光束照射到一颗晶体或众多随机取向的微小晶体来测量样品分子三维立体结构或特征X射线衍射图谱的检测分析方法。
  
  X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析,如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定(晶体结构分析)、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可地测定物质的晶体结构,如:物相定性与定量分析,衍射谱的指标化及点阵参数。
  
  X射线衍射仪的形式多种多样,用途各异,但其基本构成很相似,主要部件包括4部分。
  
  (1)高稳定度X射线源提供测量所需的X射线,改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长,调节阳极电压可控制X射线源的强度。
  
  (2)样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。
  
  (3)射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。
  
  (4)衍射图的处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有衍射图处理分析软件的计算机系统,它们的特点是自动化和智能化。
  
  应用范围:
  
  对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,X射线衍射仪都是物质表征和质量控制*的方法。XRD能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等的相组成分析,大部分晶体物质的定量、半定量分析;晶体物质晶粒大小的计算;晶体物质结晶度的计算等。
  
  
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