工业CT检测技术介绍

　　
　　
　　CT是“计算机X线断层摄影机”或“计算机X线断层摄影术”英文（ComputedTomography;）的简称CT，是从1895年伦琴发现X线以来在X线诊断方面的大突破，是近代飞速发展的电子计算机控制技术和X线检查摄影技术相结合的产物。CT由英国物理学家hounsfield在1971年研制成功，先用于颅脑疾病诊断，后于1976年又扩大到全身检查，是X线在放射学中的一大革命。
　　
　　工业CT检测技术是以X射线和γ射线作为辐射源的工业CT，其工作原理就是射线检测的原理。计算机层析成像技术使用不同的能量波作为辐射源，其工作原理也有所不同。在工业无损检测中广泛应用的是透射层析成像技术(ICT),使用的辐射源多为x射线或y射线，包括低能X射线或由加速器产生的高能X射线，常用的γ射线同位素则有192Ir、137Cs和60Co等。
　　
　　主要特点：
　　
　　紧凑型450kV计算机断层扫描（CT）统计生产过程控制系统；
　　
　　高精度的三维测量和非破坏性检测任务；
　　
　　显著减少所需的操作时间，通过一键式CT，点击按钮及完成检测和测量的CT功能；
　　
　　高度自动化操控以增加效率；
　　
　　紧凑式设计实现对直径达500毫米×长度1000毫米的大尺寸样品进行扫描；
　　
　　花岗岩基座操控平台，重复精度高，更为的3D测量；
　　
　　稳定可靠，占地面积小，为产线环境而设计；
　　
　　操作快速与符合人体工程学的吊装工具，样品重量可达50公斤（110磅）；
　　
　　维护率低，使用成本少。