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X射线晶体分析仪是研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器

点击次数:3298 发布时间:2017-04-25
 
  
  X射线晶体分析仪是研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,主要应用于单晶定向、检验缺陷、测定点阵参数、测定残余应力、研究板材、棒材的结构,研究未知物质的结构和单晶位错等。
  
  X射线晶体分析仪主要特点:
  
  1.冷却装置:自带制冷系统,无需外接水循环,并自动控制水温及显示X光管温度。
  
  2.外射线计量不大于2.5μSv/h
  
  3.X光管:额定功率2KW(铜靶)
  
  4.定时:单片机自动定时,定时时间任意选择。
  
  X射线晶体分析仪使用条件
  
  海拔不超过一千米,环境+10℃~40℃。海拔超过一千米时,环境温度>40℃时,可按一般电气标准降低使用功率。
  
  X射线晶体分析仪按下列程序进行:
  
  1.打开冷却水,继电器触点K;即接通。
  
  2.接通外电源。
  
  3.按低压按钮SB3,交流接触器KM1接通,即其触点KM1—l,KM1-2接通。
  
  4.预热3分钟后按下高压按钮SB4。S表示管流零位开关及过负荷开关,正常情况下应接通,故交流接触器KMn-l,KMn-2接通。
  
  5.根据X射线管的额定功率确定管压和管流。调整管压系通过调压器改变高压变压器的一次电压来实现。经过由二极管V1,V2及电容C1,C2组成的倍压全波整流线路将高压加到X射线管上。高压值由电压表读出。通过灯丝电位器R可调节管流,其数值由电流表读出。
  
  关闭的过程与起动的过程相反,即先将管流、管压降至zui小值,再切断高压,切断低压电及外电源,经历15min后关闭冷却水。
  
  使用X射线仪时必须注意安全,防止人身的任何部位受到X射线的直接照射及散射,防止触及高压部件及线路,并使工作室有经常的良好通风。
  
  
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