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电子元器件检测系统是一种使用X射线技术对电子元器件进行非破坏性检测的系统。它通过发射高能X射线束照射待测元器件,并利用X射线的透射、散射和吸收等现象,获取元器件内部的结构、缺陷或异常情况的信息。
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